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光學(xué)非接觸式小徑內(nèi)徑測量儀IDM的運(yùn)用案例分析

光學(xué)非接觸式小徑內(nèi)徑測量儀IDM的運(yùn)用案例分析

用途

小直徑內(nèi)徑測量儀IDM是一種光學(xué)非接觸式測量儀,可以處理各種測量。

-除了測量環(huán)的內(nèi)徑外,還可應(yīng)用于孔距、方度、錐度、方孔和狹縫。此外,由于可以測量外徑和外寬,因此也可以測量同軸度。
- 可用于客戶擁有的母帶測量儀的內(nèi)部校準(zhǔn)。


特征

- 可以從最小 φ0.1 mm 到最大 Φ100 mm 進(jìn)行測量。
? 分辨率 0.01 μm(選項(xiàng))
?.非接觸式測量不會(huì)損壞工作。
- 易于對齊,無需測量技能。
-配備溫度補(bǔ)償系統(tǒng),自動(dòng)轉(zhuǎn)換為20°C時(shí)的測量值。

 




案例分析

主要測量實(shí)例:
環(huán)規(guī)、剪刀規(guī)、軸承、模具、光纖連接器、注塑件等。

測量示例
IDM 可以測量任何高度和厚度位置的內(nèi)徑。

idm 測量示例

 

測量應(yīng)用示例
不僅可以測量環(huán)規(guī),還可以測量孔距、垂直度和錐度。也可適用于方孔和狹縫,
外徑和外寬的測量方法相同,因此可用于內(nèi)外徑同軸度等多種用途。

-我們擁有向主要汽車相關(guān)制造商、電氣制造商和儀表制造商等各個(gè)行業(yè)的交付記錄。
-已被JQA、JBI等公共機(jī)構(gòu)使用。



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